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  • 日本日置HIOKI 3504-60C测试仪

    日本日置HIOKI3504-60现货特价热卖中! 测量时间:Z快0.5ms(模拟测量时间) ●基本精度:±0.65%rdg. ●紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小 ●丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定) ●使用分析功能在扫描测量频率

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  • 日本日置HIOKIC测试仪 3504-60

    日本日置HIOKIC测试仪3504-60现货特价热卖中! 测量时间:Z快0.5ms(模拟测量时间) ●基本精度:±0.65%rdg. ●紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小 ●丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定) ●使用分析功能在扫描测量频率

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  • 日本日置C测试仪 3504-60

    日本日置C测试仪3504-60现货特价热卖中! 测量时间:Z快0.5ms(模拟测量时间) ●基本精度:±0.65%rdg. ●紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小 ●丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定) ●使用分析功能在扫描测量频率

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  • 日本日置HIOKI 3504-50C测试仪

    日本日置HIOKI3504-50C测试仪现货特价热卖中! 测量时间:Z快0.5ms(模拟测量时间) ●基本精度:±0.65%rdg. ●紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小 ●丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定) ●使用分析功能在扫描测量频率

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  • 日本日置HIOKIC测试仪3504-50

    日本日置HIOKIC测试仪现货特价热卖中! 测量频率:1MHz~600MHz ●测量时间:Z快0.5ms(模拟测量时间) ●基本精度:±0.65%rdg. ●紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小 ●丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定) ●使用分析功能在扫描测量频率

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  • 日本日置C测试仪3504-50

    日本日置C测试仪3504-50现货特价热卖中! 测量频率:1MHz~600MHz ●测量时间:Z快0.5ms(模拟测量时间) ●基本精度:±0.65%rdg. ●紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小 ●丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定) ●使用分析功能在扫描测量频率

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  • 日本日置C测试仪 3504-40

    日本日置C测试仪3504-40现货特价热卖中! 测量频率:1MHz~600MHz ●测量时间:Z快0.5ms(模拟测量时间) ●基本精度:±0.65%rdg. ●紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小 ●丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定) ●使用分析功能在扫描测量频率

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  • 日本日置HIOKI C测试仪3506-10

    日本日置HIOKIC测试仪3506-10现货特价热卖中! 测量频率:1MHz~600MHz ●测量时间:Z快0.5ms(模拟测量时间) ●基本精度:±0.65%rdg. ●紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小 ●丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定) ●使用分析功能在扫描测量频率

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  • 日本日置 3506-10C测试仪

    日本日置3506-10C测试仪现货特价热卖中! :Z快0.5ms ●测量频率:1MHz~600MHz ●测量时间:Z快0.5ms(模拟测量时间) ●基本精度:±0.65%rdg. ●紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小 ●丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定) ●使用分析功能在扫描测量频率

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  • 日本日置C测试仪 3506-10

    日本日置C测试仪3506-10现货特价热卖中! :Z快0.5ms ●测量频率:1MHz~600MHz ●测量时间:Z快0.5ms(模拟测量时间) ●基本精度:±0.65%rdg. ●紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小 ●丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定) ●使用分析功能在扫描测量频率

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  • 日本日置HIOKI 3511-50LCR测试仪

    日本日置HIOKI3511-50LCR测现货特价热卖中! 量!测量时间:Z快0.5ms ●测量频率:1MHz~600MHz ●测量时间:Z快0.5ms(模拟测量时间) ●基本精度:±0.65%rdg. ●紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小 ●丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定) ●使用分析功能在扫描测量频率

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  • 日本日置 3511-50LCR测试仪

    日本日置3511-50LCR测试仪现货特价热卖中! 量!测量时间:Z快0.5ms ●测量频率:1MHz~600MHz ●测量时间:Z快0.5ms(模拟测量时间) ●基本精度:±0.65%rdg. ●紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小 ●丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定) ●使用分析功能在扫描测量频率

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  • 日本日置LCR测试仪 3511-50

    日本日置LCR测试仪351现货特价热卖中! 高速、高稳定性测量,提高生产量!测量时间:Z快0.5ms ●测量频率:1MHz~600MHz ●测量时间:Z快0.5ms(模拟测量时间) ●基本精度:±0.65%rdg. ●紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小 ●丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定) ●使用分析功能在扫描测量频率

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  • 日本日置HIOKILCR测试仪 IM3533

    日本日置HIOKILCR测试仪IM现货特价热卖中! 高速、高稳定性测量,提高生产量!测量时间:Z快0.5ms ●测量频率:1MHz~600MHz ●测量时间:Z快0.5ms(模拟测量时间) ●基本精度:±0.65%rdg. ●紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小 ●丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定) ●使用分析功能在扫描测量频率

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  • 日本日置HIOKI IM3533 LCR测试仪

    日本日置HIOKIIM3533LCR测试现货特价热卖中! 高速、高稳定性测量,提高生产量!测量时间:Z快0.5ms ●测量频率:1MHz~600MHz ●测量时间:Z快0.5ms(模拟测量时间) ●基本精度:±0.65%rdg. ●紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小 ●丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定) ●使用分析功能在扫描测量频率

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  • 日本日置 IM3533 LCR测试仪

    日本日置IM3533LCR测试仪现货特价热卖中! 高速、高稳定性测量,提高生产量!测量时间:Z快0.5ms ●测量频率:1MHz~600MHz ●测量时间:Z快0.5ms(模拟测量时间) ●基本精度:±0.65%rdg. ●紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小 ●丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定) ●使用分析功能在扫描测量频率

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  • 日本日置HIOKILCR测试仪 IM3523

    日本日置HIOKILCR测试仪IM3523现货特价热卖中! 应用于生产线和自动化测试领域的理想选择 ●基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA) ●在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下,可以以往产品10倍的速度不间断测试。 ●内置比较器和BIN功能 ●2ms的快速测试时间

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  • 日本日置HIOKI IM3523LCR测试仪

    日本日置HIOKIIM3523LCR测试仪现货特价热卖中! 应用于生产线和自动化测试领域的理想选择 ●基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA) ●在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下,可以以往产品10倍的速度不间断测试。 ●内置比较器和BIN功能 ●2ms的快速测试时间

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  • 日本日置IM3523LCR测试仪

    日本日置IM3523LCR测试仪现货特价热卖中! 应用于生产线和自动化测试领域的理想选择 ●基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA) ●在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下,可以以往产品10倍的速度不间断测试。 ●内置比较器和BIN功能 ●2ms的快速测试时间

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  • 日本日置HIOKI IM3536 LCR测试仪

    日本日置HIOKIIM3536LCR测试仪现货特价热卖中! DC,4Hz~8MHz测量频率,今后的标杆产品 ●测量频率DC,4Hz~8MHz ●测量时间:Z快1ms ●基本精度:±0.05%rdg ●1mΩ以上的精度保证范围,也可安心进行低阻测量 ●可内部发生DC偏压测量 ●从研发到生产线活跃在各种领域中

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